Что такое рэм


РЭМ - это... Что такое РЭМ?

РЭМ

растровый электронный микроскоп

техн.

Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. — С.-Пб.: Политехника, 1997. — 527 с.

РЭМ

ротационная электрографическая машина

техн.

Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. — С.-Пб.: Политехника, 1997. — 527 с.

РЭМ

Российский этнографический музей

РФ

Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. — С.-Пб.: Политехника, 1997. — 527 с.

РЭМ

«Радиотехника, электроника и механика»

предприятие

организация, связь, техн.

Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. — С.-Пб.: Политехника, 1997. — 527 с.

РЭМ

ремонтно-эвакуационная машина

Словарь: Словарь сокращений и аббревиатур армии и спецслужб. Сост. А. А. Щелоков. — М.: ООО «Издательство АСТ», ЗАО «Издательский дом Гелеос», 2003. — 318 с.

РЭМ

растровая электронная микроскопия

техн.

Рэм

революция, Энгельс, Маркс

имя

РЭМ

радиоэлектронная маскировка

связь, техн.

Словари: Словарь сокращений и аббревиатур армии и спецслужб. Сост. А. А. Щелоков. — М.: ООО «Издательство АСТ», ЗАО «Издательский дом Гелеос», 2003. — 318 с., С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. — С.-Пб.: Политехника, 1997. — 527 с.

Рэм

революция, электрификация, мир

имя, техн.

РЭМ

Ростэлектромонтаж

г. Ростов-на-Дону, организация

РЭМ

Русэкомебель

http://rusecomebel.ru/​

организация

Источник: http://tiu.ru/Mebel-nedorogo-kupit.html

РЭМ

Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел

например: РЭМ-2011

http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/​sem/​

Московская обл., образование и наука

Источник: http://www.nanonewsnet.ru/news/2011/uchastie-ooo-evrotek-dzheneral-v-rem-2011

РЭМ

рельсовый электромагнитный [тормоз]

ж.-д.

РЭМ

радиоэкранирующий материал

Словарь сокращений и аббревиатур. Академик. 2015.

sokrasheniya.academic.ru

РЭМ - это... Что такое РЭМ?

Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) — прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать информацию о химическом составе приповерхностных слоёв.

Принцип работы

Исследуемый образец в условиях высокого вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрирования сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и др. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и получать и визуализировать информацию о свойствах подповерхностных структур.

Режимы работы

Детектирование вторичных электронов

Сигналами для получения изображения в РЭМ служат вторичные, отраженные и поглощённые электроны.

Первичные электроны, падающие на образец, взаимодействуют с электронами внешних оболочек атомов мишени, передавая им часть своей энергии. Происходит ионизация атомов образца, а высвобождающиеся в этом случае электроны могут покинуть образец и быть выявлены в виде вторичных электронов. Они характеризуются малой энергией (до 50 эВ) и поэтому выходят из участков образца очень близких к поверхности . Глубина слоя, дающего вторичные электроны, составляет 1...10 нм. В пределах этого слоя рассеивание электронов пренебрежимо мало, и поэтому при получении изображений во вторичных электронах разрешающая способность определяется прежде всего диаметром первичного электронного зонда. Вторичные электроны обеспечивают максимальную, в сравнении с другими сигналами, разрешающую способность порядка 5...10 нм. Поэтому они являются в РЭМ главным источником информации для получения изображения поверхности объекта, и именно для этого случая приводятся паспортные характеристики прибора. Количество образующихся вторичных электронов слабо зависит от атомного номера элемента мишени. Основным параметром, определяющим выход вторичных электронов, является угол падения пучка первичных электронов на поверхность мишени. Таким образом, вариации наклона микроучастков поверхности вызывают резко выраженные изменения в выходе вторичных электронов. Этот эффект используется для получения информации о топографии поверхности. С целью увеличения эмиссии вторичных электронов часто образец устанавливается под углом к оси зонда. При этом будет ухудшаться резкость изображения – его размытие по краям. Для ее исправления в РЭМ предусмотрена система компенсации угла наклона. Метод наклона образца применяют при исследовании плоских объектов (металлографических шлифов и др.). Для образцов с сильно развитым рельефом полностью провести коррекцию угла наклона не удается.

Детектирование отраженных электронов

Разрешение

Пространственное разрешение сканирующего электронного микроскопа зависит от поперечного размера электронного пучка, который в свою очередь зависит от электронно-оптической системы, фокусирующей пучок. Разрешение также ограничено размером области взаимодействия электронного зонда с образцом, т. е. от материала мишени. Размер электронного зонда и размер области взаимодействия зонда с образцом намного больше расстояния между атомами мишени, таким образом, разрешение сканирующего электронного микроскопа не настолько велико, чтобы отображать атомарные масштабы, как это возможно, например, в просвечивающем электронном микроскопе. Однако, сканирующий электронный микроскоп имеет свои преимущества, включая способность визуализировать сравнительно большую область образца, способность исследовать массивные мишени (а не только тонкие пленки), а также разнообразие аналитических методов, позволяющих измерять фундаментальные характеристики материала мишени. В зависимости от конкретного прибора и параметров эксперимента, может быть получено разрешение от десятков до единиц нанометров.

Применение

Сканирующие микроскопы применяются в первую очередь как исследовательский инструмент в физике, электронике, биологии. В основном это получение изображения исследуемого образца, которое может сильно меняться в зависимости от применяемого типа детектора. Эти различия позволяют делать вывод о физике поверхности, проводить исследование морфологии поверхности. Электронный микроскоп практически единственный прибор, который может дать изображение поверхности современной микросхемы или промежуточной стадии фотолитографического процесса.

Wikimedia Foundation. 2010.

dic.academic.ru

РЭМ - это... Что такое РЭМ?

  • РЭМ — растровый электронный микроскоп техн. Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. С. Пб.: Политехника, 1997. 527 с. РЭМ ротационная электрографическая машина техн. Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного… …   Словарь сокращений и аббревиатур

  • РЭМ — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать …   Википедия

  • РЭМ — Смотри растровый электронный микроскоп (РЭМ) …   Энциклопедический словарь по металлургии

  • рэм — remas statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Nesisteminis jonizuojančiosios spinduliuotės lygiavertės dozės matavimo vienetas. Žymimas rem: 1 rem = 10⁻² Sv = 0,1 J/kg. atitikmenys: angl. rem; rem unit vok. Rem, n; Rem Einheit …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • рэм — remas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. rem; rem unit vok. Rem, n; Rem Einheit, f rus. бэр, m; рэм, m pranc. rem, m; unité rem, f …   Fizikos terminų žodynas

  • Рэм Викторович Петров — Дата рождения: 22 марта 1930(19300322) Место рождения:  СССР г. Серафимович Волгоградская облас …   Википедия

  • Рэм Петров — Рэм Викторович Петров Дата рождения: 22 марта 1930(19300322) Место рождения:  СССР г. Серафимович Волгоградская облас …   Википедия

  • Рэм Германович Хенох — (29 августа 1926, Смоленск 2004, Москва) советский инженер строитель. Сын расстрелянного в 1938 г. преподавателя экономики в Высшей партийной школе. Жил в Смоленске, затем в эвакуации в Иркутске. Окончил Иркутскую школу военных техников, затем… …   Википедия

  • Рэм Хенох — Рэм Германович Хенох (29 августа 1926, Смоленск 2004, Москва) советский инженер строитель. Сын расстрелянного в 1938 г. преподавателя экономики в Высшей партийной школе. Жил в Смоленске, затем в эвакуации в Иркутске. Окончил Иркутскую школу… …   Википедия

  • Рэм (танк) — Ram Боевая масса …   Википедия

  • abbr_rus.academic.ru

    Тайна и значение имени Рэм

    Одно из имен советской эпохи, образованное из начальных букв слов «революция», «электрификация», «механизация». Так же звучащее греческое имя означает «гребец».

    Расчетливый, целеустремленный, прилежный, хитрый, умеет приспосабливаться и скрывать свое подлинное отношение к человеку. Выбирает себе четкую и определенную раз и навсегда цель и идет к ней неуклонно. Во всем стремится к лидерству. Внешне всегда серьезен и как будто отрешен.

    Ему не свойственно чувство раскрепощенности и внутренней свободы. Только в узком кругу близких Рэм становится самим собой и дает волю раздражительности.

    Наделен даром слова и, как правило, посвящает себя гуманитарным наукам. Добивается успехов в юриспруденции, журналистике, филологии, хороший оратор.

    Рэм, рожденный зимой, — оптимист, насыщен идеями и находит способы для их осуществления. Не ладит с начальством и по этой причине его карьера редко бывает успешной. Рожденный осенью — расчетливый, продумывает все наперед, дипломатичный. Заботливый сын. Первый брак бывает неудачным. Рожденный летом — эмоциональный, впечатлительный, жалостливый.

    Нумерология мужского имени Рэм

    Число имени Рэм – девять, почти бесконечность, несущая вместе с тем обстоятельность. Он твердо стоит на ногах, полагаясь на свои силы. Его суждения в чем-то категоричны, но всегда искренни. Вообще, честность для него – не пустой звук, это – жизненный принцип, вектор, который направляет. Рэм ждет искренности и от окружающих, но не всегда ее получает... Более подробный нумерологический анализ имени можно получить здесь.

    Похожие имена: Рэма.

    Полнолуние 7 мая 2020 года: что можно делать и что нельзя

    Полнолуния в большинстве своем представляют собой довольно опасные дни. 7 мая не станет исключением из ...

    Лунный день сегодня 6 мая 2020 года

    В эту среду Луна в Знаке Скорпиона, поэтому день может оказаться настоящей проверкой на прочность. ...

    Гороскоп Павла Глобы на неделю с 4 по 10 мая 2020 года

    Павел Глоба — один из лучших специалистов в области астрологии на данный момент. Его гороскоп ...

    Знаки Зодиака и их скрытые покровители: малые планеты

    Существуют так называемые транснептуновые объекты — малые планеты вроде Плутона. Считается, что они тоже могут ...

    Таро-прогноз на неделю с 4 по 10 мая 2020 года

    Таро-прогноз на очередную майскую неделю позволит Знакам Зодиака подготовиться к грядущим событиям и обойти стороной ...

    Май под знаком ретроградности: что сулят четыре ретро-планеты в 2020 году

    Май обещает быть непростым месяцем, потому что астрологи отмечают наличие четырех ретроградных планет. Этот месяц ...

    dailyhoro.ru

    характер и судьба, именины, происхождение, совместимость, знаменитости – Рамблер/гороскопы

    Значение и происхождение имени: Сокращенная форма римского имени Ремигиус, «Гребец». В Советской России оно получило распространение после Октябрьской революции, когда его истолковали как аббревиатуру словосочетания "Революция мировая"

    Энергетика имени и характер: Какой бы смысл, называя своего ребенка Ремом, ни вкладывали родители в это имя, не трудно заметить, что в его энергетике отмечается довольно странная и редкая для односложных имен неустойчивость. Такое ощущение, что в имени чего-то не хватает, все время хочется его чем-то дополнить. Кроме того, по своему звучанию оно способно наделить своего носителя значительной возбудимостью.

    Впрочем, последнее вовсе не означает, что Рема можно будет легко вывести из себя. Скорее, наоборот, неуверенность, заложенная в имени, лишит Рема способности активно стоять за себя, а возбудимость найдет свое отражение в повышенной впечатлительности. Рем действительно может очень остро реагировать на внешнее воздействие, он будет очень самолюбив и обидчив, однако, скорее всего, лишенный внутренней уверенности, он предпочтет приспосабливаться к обстоятельствам, вместо того, чтобы пытаться изменить их в свою пользу. Со стороны это может воприниматься как склонность к хитрости.

    С другой стороны, несколько болезненное самолюбие Рема способно заставить его искать возможность самоутвердиться, нередко он прилагает невероятные усилия, стараясь выделиться среди окружающих и добиться общественного признания. Вообще, честолюбие – это один из главных двигателей Рема, и, надо заметить, он имеет все шансы добиться успеха в жизни. Трудолюбие, дипломатичность, умение управлять своими эмоциями и приспосабливаться к различным ситуациям способны обеспечить ему хорошую карьеру, в том числе и на руководящих должностях.

    Хуже обстоит дело с личной жизнью, где его общественная маска становится ненужной и на первый план могут выйти его обидчивость и возбудимость, переходящая в раздражительность. Да и сам он едва ли будет ощущать себя счастливым человеком, для этого ему не хватает некоторой уверенности в себе, независимости от общественного мнения и вечно меняющихся обстоятельств, а также элементарной искренности в общении.

    Секреты общения: Общаться с Ремом обычно не так уж сложно, гораздо труднее понять, что именно он думает о вас и как к вам относится. Вряд ли он вступит с вами в открытую конфронтацию, тем не менее берегитесь затрагивать его самолюбие – память на обиды у Рема может оказаться чересчур долгой!

    След имени в истории:

    Святой Реми

    С этим именем связана красивая французская легенда повествующая о временах раннего средневековья, когда сражения с нечистой силой были для некоторых делом вполне обычным. Согласно этому преданию, на рубеже V-VI веков городу Реймсу, месту коронования французских монархов, угрожала опасность погибнуть от пожара, и в испуге люди попросили о помощи благочестивого архиепископа св. Реми (Ремигиуса), считавшегося непревзойденным мастером в борьбе с нечистым. Опытный ратоборец тут же распознал проделки дьявола, крикнув огню: "Узнаю тебя, сатана!", – после чего, взяв свой жезл, пошел на огонь.

    Пламя отступало перед храбрым архиепископом, а он шел все вперед, пока полностью не освободил от огня все строения. После этого св. Реми загнал пламя в каменное подземелье, замуровал вход и строго-настрого запретил когда-нибудь эту дверь открывать. И лишь через много лет после пожара какой-то любопытный попытался было открыть заповедную дверь – но из подземелья на него хлынул такой поток пламени, что спалил беднягу дотла. Затем огонь убрался обратно под землю, где заклятие св. Реми, согласно преданию, держит его и по сей день.

    horoscopes.rambler.ru

    Сообщества › Военно-Техническое Общество › Блог › Ремонтно-эвакуационная машина РЭМ-КЛ на базе "Урал-532362"

    Партия новейших ремонтно-эвакуационных машин РЭМ-КЛ поступила в общевойсковую армию Восточного военного округа, дислоцированную в Приамурье. Об этом в понедельник, 17 октября, сообщила пресс-служба округа.

    Полный размер

    Ремонтно-эвакуационная машина РЭМ-КЛ на базе

    РЭМ-КЛ на шасси "Урал-532362" выпускается на Уральском автозаводе по новой компоновочной схеме "кабина над двигателем" и имеет колесную формулу 8х8, что позволяет эксплуатировать ее на всех видах дорог. Запас хода составляет до 1 тысячи км.

    Машина может транспортировать автотехнику полупогрузкой или буксировать ее с максимальной скоростью до 30 км/ч по грунтовым дорогам и до 50 км/ч по дорогам с твердым покрытием. На машине есть кран-манипулятор ИМ-95 грузоподъемностью до 2,83 тонны и электрогенератор для сварочных работ.

    Машины РЭМ-КЛ нового образца отличаются от предшественников более высокой проходимостью на местности, на них установлено более мощное и унифицированное оборудование, позволяющее в сложных полевых условиях восстанавливать или эвакуировать вышедшую из строя технику.

    Полный размер

    Ремонтно-эвакуационная машина РЭМ-КЛ на базе

    Полный размер

    Ремонтно-эвакуационная машина РЭМ-КЛ на базе

    Основные характеристики РЭМ-КЛ
    Базовое шасси Урал-532362-1042 (8Х8)
    Снаряженная масса, кг 19570
    Габаритные размеры, мм:
    – длина 9510
    – ширина (по зеркалам) 2950
    – высота 3710
    Экипаж с водителем, чел 3
    Максимальная нагрузка на транспортное устройство, кгс 6870
    Способы эвакуации:
    – вытаскивание прямым перемещением
    – транспортирование полупогрузкой
    – транспортирование буксированием
    штатной лебедкой с использованием такелажного комплекта
    на транспортном оборудовании
    на жестких буксирах, буксирных тросах
    Допустимая масса транспортируемых машин, кг:
    – полупогрузкой по грунтовым дорогам 16000
    – полупогрузкой по дорогам с твердым покрытием 22000
    – буксированием 12000
    Максимальное усилие вытаскивания, реализуемое машиной
    на грунтах VII и VIIа категорий, тс 20
    Тяговая лебедка
    – тяговое усилие на третьем ряду намотки троса, тс 7-9
    – максимальное тяговое усилие на первом ряду намотки
    троса, ограниченное предохранительным клапаном
    гидропривода лебедки, тс 9,8-10,5
    – длина троса, м 60
    штатная с гидроприводом барабанного типа с червячным
    редуктором
    Кран-манипулятор ИМ-95
    Грузоподъемность крана-манипулятора на вылете стрелы, т
    – 3,0 м 2,83
    – 4,6 м 1,84
    – 6,7 м 1,26
    – 8,1 м 0,95
    – высота подъема крюка (над опорн. поверхностью грунта), м 9,8
    – угол поворота колонны, град 410
    Максимальная скорость при транспортировании поврежден-
    ных машин, км/ч
    – по дорогам с твердым покрытием 50
    – по грунтовым дорогам 30
    Время подготовки РЭМ-КЛ к вытаскиванию прямым переме-
    щением, мин не более 10
    Время подготовки машины к транспортированию полупогруз-
    кой, мин не более 12
    Возможные виды транспорта железнодорожный, водный, воздушный

    Оснащение
    кран-манипулятор ИМ-95
    комплект грузоподъемного оборудования
    комплект ремонтный
    оборудование сварочно-зарядное
    инструмент абразивный
    инструмент для пайки
    инструмент для пробивки, рубки, резки, фиксирова-
    ния и шабрения
    инструмент малярный
    инструмент медницко-жестяницкий
    инструмент электрифицированный
    инструмент столярный
    инструмент швейный
    комплект инструмента автомеханика
    приборы и инструменты для измерений механических
    величин
    приборы электроизмерительные
    оборудование диагностическое
    оборудование смазочно-заправочное
    оборудование для проверки и ремонта приборов
    электрооборудования
    оборудование для ремонта автомобильных шин
    комплект эвакуационный
    эвакуационное оборудование
    гидравлическое оборудование для эвакуационных
    работ
    пожарно-технические средства

    Функциональные возможности, конструкция и комплектация
    поиск машин, потерявших подвижность от застреваний,
    опрокидываний, повреждений и отказов, потери води-
    телей и т.д.
    проведение спецобработки, радиационной, химичес-
    кой и инженерной разведки в пределах, обеспечивае-
    мых приборами ДП-5В, ВПХР, РВМ-2
    локализацию пожаров поврежденных машин при их
    эвакуации
    подготовку к вытаскиванию и вытаскивание прямым
    перемещением застрявших машин с максимальным
    усилием вытаскивания 196,2кН (20тс)
    приведение неработоспособных машин в транспорта-
    бельное состояние
    транспортирование буксированием неработоспособных
    машин массой до 12,0т, приведенных в транспортабель-
    ное состояние
    транспортирование в полупогруженном положении
    неработоспособных машин массой до 16т по грунтовым
    дорогам и до 22т по дорогам с твердым покрытием
    выполнение грузоподъемных работ с использованием
    кран — манипуляторной установки
    выполнение работ по устранению повреждений, восста-
    новлению работоспособности при отказах, обуславли-
    вающих потерю подвижности(способности к самостоя-
    тельному перемещению), путем наладки, регулировки,
    ремонта или замены отдельных деталей и сборочных
    единиц автомобилей многоцелевого назначения и авто-
    мобилей хозяйственного назначения следующих марок:
    Урал-5323, Урал-4320-31, Урал-4320, КАМАЗ-6350,
    КАМАЗ-5350, КАМАЗ-4350, КАМАЗ-43114,
    КАМАЗ-43101, КАМАЗ-4326, Зил-431410, Зил-433410,
    Зил-131Н (131), ГАЗ-3307 (53А), ГАЗ-66-11 (66), УАЗ-3741
    (452А), УАЗ-3151 (469) и их модификаций
    дозаправку топливом, маслами и специальными жид-
    костями основных агрегатов и узлов перечисленных
    марок обеспечиваемых машин
    выполнение перечисленных работ в полевых условиях
    в любое время года и суток

    источник: военное.рф

    www.drive2.ru

    РЭМ - это... Что такое РЭМ?

  • РЭМ — растровый электронный микроскоп техн. Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. С. Пб.: Политехника, 1997. 527 с. РЭМ ротационная электрографическая машина техн. Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного… …   Словарь сокращений и аббревиатур

  • РЭМ — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать …   Википедия

  • РЭМ — Смотри растровый электронный микроскоп (РЭМ) …   Энциклопедический словарь по металлургии

  • рэм — remas statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Nesisteminis jonizuojančiosios spinduliuotės lygiavertės dozės matavimo vienetas. Žymimas rem: 1 rem = 10⁻² Sv = 0,1 J/kg. atitikmenys: angl. rem; rem unit vok. Rem, n; Rem Einheit …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • рэм — remas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. rem; rem unit vok. Rem, n; Rem Einheit, f rus. бэр, m; рэм, m pranc. rem, m; unité rem, f …   Fizikos terminų žodynas

  • РЭМ — Радиотехника, электроника и механика (предприятие) радиоэлектронная маскировка растровая электронная микроскопия растровый электронный микроскоп ремонтно эвакуационная машина ротационная электрографическая машина …   Словарь сокращений русского языка

  • Рэм Викторович Петров — Дата рождения: 22 марта 1930(19300322) Место рождения:  СССР г. Серафимович Волгоградская облас …   Википедия

  • Рэм Петров — Рэм Викторович Петров Дата рождения: 22 марта 1930(19300322) Место рождения:  СССР г. Серафимович Волгоградская облас …   Википедия

  • Рэм Германович Хенох — (29 августа 1926, Смоленск 2004, Москва) советский инженер строитель. Сын расстрелянного в 1938 г. преподавателя экономики в Высшей партийной школе. Жил в Смоленске, затем в эвакуации в Иркутске. Окончил Иркутскую школу военных техников, затем… …   Википедия

  • Рэм Хенох — Рэм Германович Хенох (29 августа 1926, Смоленск 2004, Москва) советский инженер строитель. Сын расстрелянного в 1938 г. преподавателя экономики в Высшей партийной школе. Жил в Смоленске, затем в эвакуации в Иркутске. Окончил Иркутскую школу… …   Википедия

  • Рэм (танк) — Ram Боевая масса …   Википедия

  • universal_ru_en.academic.ru

    Растровый электронный микроскоп — Википедия

    Растровый электронный микроскоп Zeiss Leo Supra 35 Микрофотография пыльцы позволяет оценить возможности режима ВЭ РЭМ Микрофотография интерфейса между оксидной (тёмные поля) и металлической (светлые поля) составляющими позволяет оценить возможности режима ОЭ РЭМ

    Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом.

    Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3-10 крат (то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы) до 1 000 000 крат, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов.

    Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащённых детекторами различных типов.

    История электронной микроскопии (в частности, и РЭМ), началась с теоретических работ немецкого физика Ганса Буша о влиянии электромагнитного поля на траекторию заряженных частиц. В 1926 году он доказал, что такие поля могут быть использованы в качестве электромагнитных линз[1], установив таким образом основополагающие принципы геометрической электронной оптики. В ответ на это открытие возникла идея электронного микроскопа и две команды — Макс Кнолл и Эрнст Руска из Берлинского технического университета и Эрнст Бруш из лаборатории EAG попробовали реализовать эту идею на практике. И в 1931 году Кнолл и Руска создали первый просвечивающий электронный микроскоп[2].

    После перехода в немецкую радиокомпанию Telefunken, для проведения исследований телевизоров на катодных трубках, Макс Кнолл разработал анализатор электронной трубки или «анализатор электронного пучка», который моделировал все необходимые характеристики сканирующего электронного микроскопа: образец располагался с одной стороны отпаянной стеклянной трубки, а электронная пушка с другой. Электроны, ускоренные напряжением от 500 до 4000 вольт, фокусировались на поверхности образца, а система катушек обеспечивала их отклонение. Пучок сканировал поверхность образца со скоростью 50 изображений в секунду, а измерение тока, прошедшего через образец, позволяло восстановить изображение его поверхности. Первый прибор, использующий этот принцип, был создан в 1935 году[3].

    В 1938 году немецкий специалист Манфред фон Арденне построил первый сканирующий электронный микроскоп[4]. Но этот аппарат ещё не был похож на современный РЭМ, так как на нём можно было смотреть только очень тонкие образцы на просвет. То есть это был скорее сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (СПЭМ или STEM) — Фон Арденне, по сути, добавил сканирующую систему к просвечивающему электронному микроскопу. Кроме регистрации изображения на кинескопе, в приборе была реализована система фоторегистрации на плёнку, расположенную на вращающемся барабане. Электронный пучок диаметром 0,01 мкм сканировал поверхность образца, а прошедшие электроны засвечивали фотоплёнку, которая перемещалась синхронно с электронным пучком.

    Первая микрофотография, полученная на СПЭМ, зафиксировала увеличенный в 8000 раз кристалл ZnO с разрешением от 50 до 100 нанометров. Изображение составлялось из растра 400х400 точек и для его накопления было необходимо 20 минут. Микроскоп имел две электростатические линзы, окружённые отклоняющими катушками.

    В 1942 году, русский эмигрант, физик и инженер Владимир Зворыкин, работавший в то время в лаборатории Radio Corporation of America в Принстоне в США, опубликовал детали первого сканирующего электронного микроскопа, позволяющего проанализировать не только тонкий образец на просвет, но и поверхность массивного образца. Электронная пушка с вольфрамовым катодом эмиттировала электроны, которые затем ускорялись напряжением 10 киловольт. Электронная оптика аппарата была составлена из трёх электростатических катушек, а отклоняющие катушки размещались между первой и второй линзой. Чтобы обеспечить удобство размещения образца и манипулирования им в конструкции РЭМ, электронная пушка располагалась внизу микроскопа (у этой конструкции была неприятная особенность — риск падения образца в колонну микроскопа).

    Этот первый РЭМ достигал разрешения порядка 50 нанометров. Но в это время бурно развивалась просвечивающая электронная микроскопия, на фоне которой РЭМ казался менее интересным прибором, что сказалось на скорости развития этого вида микроскопии[5].

    В конце 1940 годов Чарльз Отли, будучи председателем конференции отдела проектирования Кембриджского университета в Великобритании, заинтересовался электронной оптикой и решил объявить программу разработки сканирующего электронного микроскопа в дополнение к ведущимся в отделе физики работам над просвечивающим электронным микроскопом под руководством Вернона Эллиса Косслетта[en]. Один из студентов Чарльза Отли, Кен Сандер, начал работать над колонной для РЭМ, используя электростатические линзы, но вынужден был через год прервать работы из-за болезни. Работу в 1948 году возобновил Дэннис МакМиллан. Он с Чарльзом Отли построили их первый РЭМ (SEM1 или Scanning Electron Microscope 1) и в 1952 году этот инструмент достиг разрешения 50 нанометров и, что наиболее важно, обеспечил трёхмерный эффект воспроизведения рельефа образца — характерную особенность всех современных РЭМ[6].

    В 1960 году Томас Эверхарт и Ричард Торнли, изобретя новый детектор («детектор Эверхарта-Торнли»), ускорили развитие растрового электронного микроскопа. Этот детектор, крайне эффективный для сбора как вторичных, так и отражённых электронов, становится очень популярным и встречается сейчас на многих РЭМ.

    Работы, которые велись в Кембриджском университете группой Чарльза Отли в 60-е годы, весьма способствовали развитию РЭМ, и в 1965 году фирмой «Cambridge Instrument Co.» был выпущен первый коммерческий сканирующий электронный микроскоп — Stereoscan[7].

    Разрешающая способность (способность различать тонкие детали) оптического микроскопа ограничена длиной волны фотонов видимого света. Наиболее мощные оптические микроскопы могут обеспечить наблюдение деталей с размером 0.1-0.2 мкм[8]. Если мы захотим увидеть более тонкие детали, необходимо сократить длину волны, которая освещает объект исследования. Для этого можно использовать не фотоны, а, например, электроны, длина волны которых намного меньше. Электронные микроскопы — результат воплощения этой идеи.

    Принципиальная схема «исторического» сканирующего микроскопа. Начиная с 1980 года, кинескоп, синхронизированный с РЭМ, уступил место устройствам цифрового накопления изображений

    Нижеследующий рисунок иллюстрирует принципиальную схему РЭМ: электронный пучок направляется на анализируемый образец. В результате взаимодействия генерируются низкоэнергетичные вторичные электроны, которые собираются детектором вторичных электронов. Интенсивность электрического сигнала детектора зависит как от природы образца (в меньшей степени), так и от топографии (в большей степени) образца в области взаимодействия. Таким образом возможно получить карту рельефа проанализированной зоны.

    Тонкий электронный зонд генерируется электронной пушкой, которая играет роль источника электронов, и фокусируется электронными линзами (обычно электромагнитными, иногда электростатическими). Сканирующие катушки отклоняют зонд в двух взаимоперпендикулярных направлениях, сканируя поверхность образца зондом, подобно сканированию электронным пучком экрана электронно-лучевой трубки телевизора. Источник электронов, электронные линзы (обычно тороидальные магнитные) и отклоняющие катушки образуют систему, называемую электронной колонной.

    В современных РЭМ изображение регистрируется в цифровой форме, но первые РЭМы появились в начале 1960 годов задолго до распространения цифровой техники и поэтому изображение формировалось способом синхронизации развёрток электронного пучка в кинескопе с электронным пучком в РЭМ и регулировки интенсивности трубки вторичным сигналом. Изображение образца тогда появлялось на фосфоресцирующем экране кинескопа и могло быть зарегистрировано на фотоплёнке.

    Взаимодействие электронов с веществом[править | править код]

    Виды взаимодействия электронов с веществом

    Электроны зонда (пучка) взаимодействуют с материалом образца и генерируют различные типы сигналов: вторичные электроны, обратноотраженные электроны, Оже-электроны, рентгеновское излучение, световое излучение (катодолюминесценция) и т. д. Эти сигналы являются носителями информации о топографии и материале образца[9].

    Вторичные электроны[править | править код]

    В результате взаимодействия с атомами образца электроны первичного пучка могут передать часть своей энергии электронам образца. В результате такого взаимодействия может произойти отрыв электронов. Такие электроны называются вторичными. Эти электроны обычно обладают небольшой энергией (порядка 50 эВ). Часто электрон первичного пучка обладает энергией, достаточной для появления нескольких вторичных электронов.

    Так как энергия вторичных электронов невелика, их выход возможен только с приповерхностных слоев материала (менее 10 нм). Благодаря небольшой кинетической энергии эти электроны легко отклоняются небольшой разностью потенциалов. Это делает возможным существенно повысить эффективность детекторов (собрать максимально возможное количество электронов) и получить высококачественные изображения с хорошим отношением сигнал/шум и разрешением лучше 1 нм. Количество вторичных электронов зависит от угла столкновения электронного пучка с поверхностью образца, то есть от топографии. Поэтому сигнал вторичных электронов применяется для воспроизведения топографии образца.[9].

    Схема РЭМ, оснащённого детектором рентгеновских лучей — «РСМА» (микрозондом)

    Основа сканирующего электронного микроскопа — электронная пушка и электронная колонна, функция которой состоит в формировании остросфокусированного электронного зонда средних энергий (200 эВ — 50 кэВ) на поверхности образца. Прибор обязательно должен быть оснащен вакуумной системой. Также в каждом РЭМ есть предметный столик, позволяющий перемещать образец минимум в трёх направлениях. При взаимодействии электронов с объектом возникают несколько видов сигналов, каждый из которых улавливается специальным детектором (см. ниже). Соответственно, изображения, продуцируемые микроскопом, могут быть построены с использованием различных сигналов, часто нескольких сигналов одновременно (например, изображение во вторичных электронах, изображение в отражённых электронах, рентгеновское изображение (карта)).

    РЭМ оснащаются детекторами, позволяющими отобрать и проанализировать излучение возникшее в процессе взаимодействия и частицы, изменившие энергию в результате взаимодействия электронного зонда с образцом.[9] Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать информацию о свойствах подповерхностных структур.

    Основные типы сигналов, которые генерируются и детектируются в процессе работы РЭМ:

    • вторичные электроны (ВЭ, режим рельефа)
    • отражённые электроны (ОЭ, режим контраста по среднему атомному номеру, а также режим рельефа)
    • прошедшие через образец электроны, в случае установленной STEM-приставки (чаще используется для исследования органических объектов)
    • дифракции отражённых электронов (ДОЭ)
    • потери тока на образце (ПЭ или детектор поглощённых электронов)
    • ток, прошедший через образец (ТЭ или детектор прошедших электронов)
    • характеристическое рентгеновское излучение (Рентгеноспектральный анализ)
    • световой сигнал (КЛ или катодолюминесценция).

    Все возможные типы детекторов, установленные на одном приборе встречаются крайне редко.

    Детекторы вторичных электронов — первый и традиционно устанавливаемый на большинство РЭМ тип детекторов (в некоторых упрощённых настольных моделях используется только детектор отражённых электронов). В этом режиме разрешающая способность РЭМ максимальна. Из-за очень узкого электронного луча РЭМ обладают очень большой глубиной резкости, примерно на два порядка выше, чем у оптического микроскопа и позволяет получать четкие микрофотографии с характерным трехмерным эффектом для объектов со сложным рельефом. Это свойство РЭМ крайне полезно для понимания поверхностной структуры образца. Микрофотография пыльцы демонстрирует возможности режима ВЭ РЭМ.

    Отражённые электроны (ОЭ) — это электроны пучка, отражённые от образца упругим рассеиванием. В зависимости от конфигурации детектора они могут отображать либо композицию (состав) образца, либо его топографию (рельеф поверхности). В композиционном режиме ОЭ часто используются в аналитическом РЭМ совместно с анализом характеристических спектров рентгеновского излучения. Поскольку интенсивность сигнала ОЭ напрямую связана со средним атомным номером (Z) облучаемой в данным момент электронным пучком области образца, изображения ОЭ несут в себе информацию о распределении различных элементов в образце. Например, режим ОЭ позволяет обнаружить коллоидные золотые иммунные метки диаметра 5-10 нм, которые очень тяжело или даже невозможно обнаружить в биологических объектах в режиме ВЭ. Микрофотография поверхности аншлифа металл-оксидной системы демонстрирует возможности режима ОЭ РЭМ. В топографическом режиме ОЭ могут использоваться в условиях, когда традиционные детекторы вторичных электронов не работают, как например в РЭМ с переменным вакуумом.

    Характеристическое рентгеновское излучение генерируется когда электрон пучка выбивает электрон с внутренней оболочки одного из атомов образца, заставляя электрон с более высокого энергетического уровня перейти на нижний уровень энергии с одновременным испусканием кванта рентгеновского излучения. Обработка спектра характеристического рентгеновского излучения позволяет осуществлять качественный и количественный элементный анализ состава образца.

    Обычно для получения информации о структуре поверхности используются вторичные и/или отражённые (обратно-рассеянные) электроны. Контраст во вторичных электронах сильнее всего зависит от рельефа поверхности, тогда как отражённые электроны несут информацию о распределении электронной плотности (области, обогащённые элементом с бо́льшим атомным номером выглядят ярче). Поэтому обратно-рассеянные электроны, которые генерируются одновременно со вторичными, кроме информации о морфологии поверхности содержат дополнительную информацию и о составе образца. Облучение образца пучком электронов приводит не только к образованию вторичных и отражённых электронов, а также вызывает испускание характеристического рентгеновского излучения. Анализ этого излучения позволяет определить элементный состав микрообъёма образца (разрешение для массивных образцов обычно не лучше 1 мкм).

    Детектирование вторичных электронов[править | править код]

    В качестве детектора вторичных электронов используется детектор Эверхарта-Торнли, позволяющий эффективно собирать электроны с энергией порядка 50 эВ.

    Детектирование отражённых электронов[править | править код]

    Многие РЭМ оснащены высокочувствительным полупроводниковым детектором обратно-рассеянных электронов. Детектор смонтирован на нижней поверхности объективной линзы либо вводится на специальном стержне под полюсной наконечник. Это позволяет путём выбора режима из меню получить изображения топографии поверхности, изображение в композиционном контрасте или в темном поле.

    Элементный микроанализ[править | править код]

    Для анализа элементного состава применяется рентгеноспектральный микроанализ, в котором детектируется характеристическое рентгеновское излучение вещества, возникающее при облучении поверхности образца электронами. Существует энергодисперсионные (EDX) и волнодисперсионные (WDX) анализаторы.

    До настоящего времени используются энергодисперсионные спектрометры с азотным охлаждением, однако в последние годы производители переходят на безазотные детекторы.

    Работа при низких ускоряющих напряжениях[править | править код]

    Изображение полученное при ускоряющем напряжении 300 В. Распределение островков клея на липкой бумаге для заметок (Post-It® note). Проводящее покрытие не наносилось: подобные деликатные образцы легко повреждаются при напылении покрытий, а также пучком электронов высоких энергий

    Современные микроскопы способны работать при низких ускоряющих напряжениях, до 200 вольт. Приложение замедляющего потенциала позволяет уменьшать ускоряющее напряжение до 10 вольт. Низкие напряжения имеют ряд преимуществ. При низком напряжении можно достичь состояние равновесия, когда количество электронов пучка поглощённых образцом равно количеству электронов эмитированных образцом. В этих условиях нанесение проводящих покрытий на образец не требуется. При низких напряжениях повреждение образца электронами пучка минимально, что важно для деликатных образцов. И, наконец, при низких напряжениях зона взаимодействия электронов пучка с образцом резко уменьшается, что ведёт к существенному увеличению пространственного разрешения при работе с отражёнными электронами и с рентгеновским излучением.

    Переменный вакуум[править | править код]

    Часть современных микроскопов оборудована вакуумной системой, способной поддерживать высокий (и сверхвысокий) 10−3 Па вакуум в электронной колонне, и относительно плохой вакуум до 5 — 2000 Па в камере образцов. В результате образец находится в хотя и разреженной, но достаточно плотной для нейтрализации поверхностного заряда, атмосфере (обычно состоящей из паров воды или азота). Молекулы газов ионизируются под воздействием первичных электронов, испускаемых катодом. Образовавшиеся положительные ионы взаимодействуют с электронами, которые накапливаются на образце и нейтрализуют поверхностный заряд.

    В результате диэлектрические образцы можно наблюдать без проводящего покрытия. Если микроскоп оборудован также и охлаждающим держателем образцов, то появляется возможность работы с влажными образцами и даже с водой. Например, можно наблюдать непосредственно в микроскопе за растворением и рекристаллизацией поваренной соли (или других кристаллов).

    Пространственное разрешение сканирующего электронного микроскопа зависит как от диаметра электронного пучка, так и от размера области взаимодействия электронного зонда с образцом. Размер электронного зонда и размер области взаимодействия зонда с образцом намного больше расстояния между атомами мишени. Хотя разрешение растровых электронных микроскопов уступает разрешению просвечивающих микроскопов, они имеют ряд преимуществ, таких как возможность изучения топографии образца, визуализация сравнительно большой области образца, исследование массивных объектов (а не только тонких плёнок), набор аналитических методов, позволяющих измерять состав и свойства изучаемого объекта.

    В зависимости от конкретного прибора и параметров эксперимента, может быть получено разрешение от десятков до доли нанометра. На 2009 год наилучшее разрешение было достигнуто на микроскопе Hitachi S-5500 и составило 0,4 нм (при напряжении 30 кВ)[10].

    Как правило, наилучшее разрешение может быть получено при использовании вторичных электронов, наихудшее — в характеристическом рентгеновском излучении. Последнее связано с большим размером области возбуждения излучения, в несколько раз превышающим размер электронного зонда. При использовании режима низкого вакуума разрешение несколько ухудшается.

    Проводящие (металлические) образцы обычно не требуют специальной подготовки, и могут быть непосредственно помещены в камеру микроскопа. Если требуется, образцы могут подвергаться очистке. Для обозрения внутренней структуры и (или) использования микрорентгеноспектрального анализа могут быть приготовлены шлифы.

    Порошки и наночастицы наносятся на зеркального качества поверхности (стекло, пластик, слюда и др.) в виде взвеси в воде или органическом растворителе. После высыхания жидкости образец может быть использован в микроскопе. Порошки с более крупными частицами могут наноситься на проводящий углеродный скотч.

    Непроводящие образцы обычно подвергаются напылению тонкого проводящего слоя для снятия заряда и экранирования падающего пучка от накопленного в объёме материала заряда. Для проводящих покрытий чаще всего используют углерод, золото или сплав золота с палладием. Первый полезен для рентгеновского микроанализа. Напыление золота или сплава на его основе позволяет получать микрофотографии с бо́льшим увеличением и контрастом (чаще всего без собственной визуализации). Если невозможно напыление плёнки на образец, то в РЭМ с переменным вакуумом возможно снятие заряда с образца ионами вводимых в камеру газов (обычно водяные пары или азот). Накопления заряда на образце так же можно избежать при работе при низких ускоряющих напряжениях (обычно порядка 1 кВ).

    Биологические образцы должны быть химически зафиксированы, дегидратированы в сериях растворов спирта или ацетона с увеличивающейся от 30-50 % до 100 % концентрацией, затем спирт (или ацетон) должен быть удален из образца в специальном аппарате, в котором спирт замещается на жидкую двуокись углерода, которая переводится в газообразное состояние посредством перехода через критическую тройную точку.

    Растровые микроскопы применяются как исследовательский инструмент в физике, электронике, биологии, фармацевтике, медицине, материаловедении, и т. д. Их главная функция — получение увеличенного изображения исследуемого образца и/или изображений образца в различных регистрируемых сигналах. Сопоставление изображений, полученных в разных сигналах, позволяют делать вывод о морфологии и составе поверхности.

    Характеристики современного растрового микроскопа[править | править код]

    Характеристики растрового электронного микроскопа Magellan XHR SEM

    • Разрешение при оптимальной рабочей дистанции
     — 0,8 нм при 15 кВ
     — 0,8 нм при 2 кВ
     — 0.9 нм при 1 кВ
     — 1,5 нм при 200 В
    • Разрешение в точке схождения
     — 0,8 нм при 15 кВ
     — 0,9 нм при 5 кВ
     — 1,2 нм при 1 кВ

    Основные мировые производители сканирующих электронных микроскопов[править | править код]

    1. ↑ H. Busch. Berechnung der Bahn von Kathodenstrahlen im axialsymmetrischen elektromagnetischen Felde // dans Annalen der Physik, vol. 386, no 25, 1926, p. 974—993
    2. ↑ M. Knoll, E. Ruska. Das Elektronenmikroskop // dans Zeitschrift für Physik A Hadrons and Nuclei, vol. 78, 1932, p. 318—339 (недоступная ссылка)
    3. ↑ M. Knoll. Aufladepotentiel und Sekundäremission elektronenbestrahlter Körper // Zeitschrift fur technische Physik. 16, 467—475 (1935)
    4. ↑ M. von Ardenne. Das Elektronen-Rastermikroskop // Zeitschrift für Physik A Hadrons and Nuclei, 108 (9-10) :553-572, 1938
    5. ↑ E. Ruska. The Early Development of Electron Lenses and Electron Microscopy. Hirzel, Stuttgart, 1980, ISBN 3-7776-0364-3
    6. ↑ K.C.A. Smith, Charles Oatley: Pioneer of scanning electron microscopy, EMAG '97 Proceedings, IOP Publishing Lt, 1997 (неопр.) (недоступная ссылка). Дата обращения 21 февраля 2010. Архивировано 8 сентября 2009 года.
    7. ↑ Дэннис МакМиллан. Сканирующая электронная микроскопия в период с 1928 по 1965 годы
    8. ↑ Principes de fonctionnement du microscope photonique, Centre national de la recherche scientifique
    9. 1 2 3 Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Ф. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в двух книгах. Пер. с англ. — М.: Мир, 1984. 303 с.
    10. Hitachi преодолевает предел разрешения РЭМ, www.labtechnologist.com, 10.03.2005
    11. ↑ Carl Zeiss Microscopy — Company Presentation
    12. ↑ Thermo Fisher Scientific Completes Acquisition of FEI Company

    ru.wikipedia.org

    РЭМ - это... Что такое РЭМ?

  • РЭМ — растровый электронный микроскоп техн. Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного русского языка. С. Пб.: Политехника, 1997. 527 с. РЭМ ротационная электрографическая машина техн. Словарь: С. Фадеев. Словарь сокращений современного… …   Словарь сокращений и аббревиатур

  • РЭМ — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать …   Википедия

  • РЭМ — Смотри растровый электронный микроскоп (РЭМ) …   Энциклопедический словарь по металлургии

  • рэм — remas statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Nesisteminis jonizuojančiosios spinduliuotės lygiavertės dozės matavimo vienetas. Žymimas rem: 1 rem = 10⁻² Sv = 0,1 J/kg. atitikmenys: angl. rem; rem unit vok. Rem, n; Rem Einheit …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • рэм — remas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. rem; rem unit vok. Rem, n; Rem Einheit, f rus. бэр, m; рэм, m pranc. rem, m; unité rem, f …   Fizikos terminų žodynas

  • РЭМ — Радиотехника, электроника и механика (предприятие) радиоэлектронная маскировка растровая электронная микроскопия растровый электронный микроскоп ремонтно эвакуационная машина ротационная электрографическая машина …   Словарь сокращений русского языка

  • Рэм Викторович Петров — Дата рождения: 22 марта 1930(19300322) Место рождения:  СССР г. Серафимович Волгоградская облас …   Википедия

  • Рэм Петров — Рэм Викторович Петров Дата рождения: 22 марта 1930(19300322) Место рождения:  СССР г. Серафимович Волгоградская облас …   Википедия

  • Рэм Германович Хенох — (29 августа 1926, Смоленск 2004, Москва) советский инженер строитель. Сын расстрелянного в 1938 г. преподавателя экономики в Высшей партийной школе. Жил в Смоленске, затем в эвакуации в Иркутске. Окончил Иркутскую школу военных техников, затем… …   Википедия

  • Рэм Хенох — Рэм Германович Хенох (29 августа 1926, Смоленск 2004, Москва) советский инженер строитель. Сын расстрелянного в 1938 г. преподавателя экономики в Высшей партийной школе. Жил в Смоленске, затем в эвакуации в Иркутске. Окончил Иркутскую школу… …   Википедия

  • Рэм (танк) — Ram Боевая масса …   Википедия

  • universal_ru_de.academic.ru

    Рем - это... Что такое Рем?

       В римской мифологии Рем - сын Марса и Реи Сильвии (по другим версиям - сын или внук Энея, сын Амулия, сын рабыни альбанского царя Тархетия), брат-близнец Ромула.

       Рея Сильвия была дочерью Нумитора, царя города Альба-Лонги. Амулий, младший брат Нумитора, захватил альбанский престол, изгнал Нумитора, убил его сына, а Рею Сильвию, чтобы оставить бездетной, посвятил в весталки. Рожденных ею от Марса (по одной из версий - от самого Амулия в облике Марса) младенцев Ромула и Рема он приказал бросить в воды Тибра, а их мать за нарушение обета зарыть в землю. Однако Марс не допустил гибели своих детей. Речной поток вынес корзину с близнецами на берег, где их нашла и вскормила своим молоком волчица. Через некоторое время младенцев обнаружил царский пастух Фаустул, который вместе со своей женой Аккой Ларентией воспитал близнецов. Близнецы выросли сильными и ловкими, смелыми и дерзкими перед лицом опасности. Со временем каждый из них стал предводителем отряда из пастухов, бродяг и даже беглых рабов. Во время одного из набегов на стада Нумитора его пастухи схватили Рема и привели к свергнутому царю. Выслушав ответ Рема на вопрос, кто он и откуда, Нумитор заподозрил, что Ромул и Рем - его внуки, которых он считал погибшими. Его подозрения превратились в полную уверенность, когда он увидел корзину, в которой младенцы были брошены в Тибр. Узнав от Нумитора тайну своего происхождения, близнецы убили Амулия и вернули альбанский престол своему деду.

       Братья не остались в Альба-Лонге, а, чтобы быть независимыми и властвовать над собравшимися вокруг них и видевшими в них своих предводителей пастухами, бродягами и беглыми рабами, решили основать новый город в том самом месте, где их когда-то выбросили на берег волны Тибра. Дружные прежде, теперь они стали спорить, кто из них будет царем города и в каком именно месте начинать его постройку. После долгих пререканий они решили выяснить волю богов гаданием по птицам в небе. Рем с вершины Авентинского холма первым увидел в небе шесть коршунов, а спустя мгновение Ромул с вершины Палатинского - двенадцать. Спор возобновился: Рем считал, что царем должен быть он, поскольку увидел вестников божественной воли первым, а Ромул полагал, что преимущество на его стороне, ибо ему явилось вдвое больше птиц, чем Рему. Ни один из братьев не уступал другому. Желая настоять на своем, Ромул принялся копать ров, который должен был очертить контуры будущего города. Раздосадованный упорством брата, Рем начал издеваться над ним, легко перепрыгивая через ров и насыпанный вдоль него вал и насмешливо приговаривая, что никогда не видел столь мощных укреплений. Взбешенный Ромул, не помня себя от гнева, обрушил на брата страшный удар, от которого тот упал замертво. Согласно другой версии, Рем погиб в схватке, которую затеяли сторонники близнецов, чтобы силой решить, кому из их предводителей быть царем нового города.

       (Кондрашов А.П. Легенды и мифы Древней Греции и Рима: Энциклопедический словарь)

       * * *

       (И.А. Лисовый, К.А. Ревяко. Античный мир в терминах, именах и названиях: Словарь-справочник по истории и культуре Древней Греции и Рима / Науч. ред. А.И. Немировский. - 3-е изд. - Мн: Беларусь, 2001)

    Античный мир. Словарь-справочник. EdwART. 2011.

    antiquites.academic.ru

    Рема - это... Что такое Рема?

  • РЕМА — [гр. rhema слово, изречение] лингв. один из двух компонентов высказывания: новое, что сообщается в предложении (по теории Пражской школы В. Матезиус). Противоп. ТЕМА. Словарь иностранных слов. Комлев Н.Г., 2006. рема (рэ), ы, ж. ( …   Словарь иностранных слов русского языка

  • рема — реактивно миномётный артиллерийский воен. Бориславский завод «РЕМА» РЕМА Бориславский завод радиоэлектронной медицинской аппаратуры http://www.bzrema.com/​ мед., организация, Украина, электр …   Словарь сокращений и аббревиатур

  • рема — поемный кустарник и лес в речной долине , оренб. (Даль). Неотделимо от урема (см.). Не связано с цслав. рема течение (XVII в.), вопреки Торбьёрнссону (1, 10), потому что последнее слово заимств. из ср. греч. ῥέμα, греч. ῥεῦμα течение ; см.… …   Этимологический словарь русского языка Макса Фасмера

  • Рема — ы, жен. Нов.Производные: Ремка; Ремуся.Происхождение: (Женск. к (см. Рем) 2) Словарь личных имён. Рема ы, ж. Нов. Производные: Ремка; Ремуся. [Женск. к Рем2 (см.).] …   Словарь личных имен

  • рема — ядро, изречение, сказанное Словарь русских синонимов. рема сущ., кол во синонимов: 3 • изречение (26) • …   Словарь синонимов

  • РЕМА — (от греч. rhema слово изречение, букв. сказанное) (ядро), в теории актуального членения предложения один из двух основных компонентов высказывания (ср. Тема) то новое, о чем сообщается в предложении …   Большой Энциклопедический словарь

  • РЕМА — жен., оренб. вернее урема, татар. поемный кустарник и лес по реке, вся ширина русла или поема, берега реки, низменности, до увала, до кряжа; вся речная долина. Толковый словарь Даля. В.И. Даль. 1863 1866 …   Толковый словарь Даля

  • РЕМА — (от греч. rhēma – изречение, сказанное). При актуальном членении предложения ядро высказывания, содержание сообщения; то новое, что говорящий сообщает, отправляясь от темы (см. тема во 2 м значении) …   Новый словарь методических терминов и понятий (теория и практика обучения языкам)

  • Рема — Актуальное членение предложения используемый в лингвистике принцип разделения предложения на: исходную, изначально данную составляющую (то, что считается известным или может быть легко понято), называемую темой, исходной точкой или основой; новую …   Википедия

  • Рема — (от греч. ῥῆμα  слово, изречение, букв.  сказанное)  компонент актуального членения предложения, то, что утверждается или спрашивается об исходном пункте сообщения  теме и создаёт предикативность, законченное выражение мысли. Ремой может быть… …   Лингвистический энциклопедический словарь

  • рема — ы; ж. [греч. rhema слово, изречение]. Лингв. Один из двух компонентов высказывания, сообщающий то новое, о чём говорится в предложении. ◁ Рематический, ая, ое. Р. компонент предложения. * * * рема (от греч. rhēma  слово, изречение, буквально … …   Энциклопедический словарь

  • dic.academic.ru


    Смотрите также